В рамка выставки Semicon West (11-13 июля) в Сан Франциско, президент и генеральный директор компании CyberOptics - Субодх Кулкарни, в интервью Саре Солимон, рассказал о тенденциях развития компании, новых продуктах, технологическом прогрессе, вызовах времени и преимуществах, изготовляемых датчиков для контроля качества полупроводниковых пластин.

Особое внимание было акцентировано на продуктах WaferSense и ReticleSense.

«Наши датчики позволяют нашим клиентам решать измерительные задачи значительно быстрее и точнее, чем все, что они использовали раньше, и это, очевидно, имеет огромные преимущества для наших клиентов». – отметил Субодх Кулкарни.

Среди основных преимуществ и выгод были обозначены – экономичность, сокращение временных затрат на решение поставленных задач, увеличение производительности и возможность бесперебойной работы.

Читать интервью с Субодх Кулкарни