Микрофокусная система рентгеновского контроля SEC X-eye SF160FCT

  SF160FCT — это микрофокусная рентгеновская система высокого разрешения для контроля сборки ПП, контроля производства полупроводников, ПП и электронных компонентов. Благодаря превосходной рентгеновской визуализации можно обнаруживать скрытые дефекты микроскопических размеров с высоким разрешением.
  SF160FCT оснащён открытой микрофокусной трубкой на 160 кВ с размером пятна 0,9 мкм. Система может увеличивать объект в 4800 раз и отображать рентгеновское изображение под любым углом с помощью 6-осевого манипулятора.

Система применяется в следующих технологиях:

1. Контроль сборки печатных плат.
Дефекты: BGA, CSP — дефекты, холодная пайка, замыкание, пустота (автоматический расчёт площади пустот).



2. Полупроводниковая. Светодиодная, корпусирование элементов.
Дефекты: обрыв провода, поднятый провод, заусенец наплыв, расслоение рисунка, пустота, трещина 3D-монтаж — MCP, TSV, микродефект FCB



3. Производство многослойных ПП.
Дефекты: перемычки, слепое переходное отверстие, расположение переходных отверстий, качество медных проводников. Контроль гибких переход между ПП.



4. Контроль электронных компонентов.
Дефекты: пайка разъемов, крепления компонентов внутри, КЗ, внутреннее загрязнение.